開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀成功實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量

　　開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀成功實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量
　　開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀直流電阻、高壓斷路器的回路電阻，而這類(lèi)電橋的測(cè)試電流僅為m*，難以發(fā)現(xiàn)變壓器線(xiàn)圈導(dǎo)電回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路的回路電阻時(shí)，由于受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間的影響，測(cè)量的電阻值偏大若干倍，掩蓋了真實(shí)的回路電阻值。因此，開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀對(duì)斷路器、隔離開(kāi)關(guān)回路電阻的測(cè)量電流作出不小于100A的規(guī)定，以確保測(cè)量的準(zhǔn)確度。
　　當(dāng)前回路電阻測(cè)試儀都是采用典型的四線(xiàn)制測(cè)量法，用高頻開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)生大于100A的直流測(cè)試電流，施加于制造廠(chǎng)規(guī)定的被測(cè)體兩端，并測(cè)量電流流過(guò)被測(cè)體產(chǎn)生的壓降，采樣電路同時(shí)對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，通過(guò)計(jì)算電壓值和電流值之比得出被測(cè)體的直流電阻值，zui后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線(xiàn)或接觸不良時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開(kāi)路。
　　開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀根據(jù)對(duì)以上問(wèn)題的分析論證發(fā)現(xiàn)，改進(jìn)四線(xiàn)制測(cè)量法，在典型四線(xiàn)制測(cè)量法的基礎(chǔ)上增加一個(gè)輔助的小電流恒流源，并通過(guò)繼電器接到典型四線(xiàn)制測(cè)量法的電壓V＋、V－測(cè)試線(xiàn)上，可以*解決目前傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀存在的問(wèn)題。開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀打破了長(zhǎng)期以來(lái)四線(xiàn)制測(cè)量法不在電壓測(cè)試線(xiàn)上加電流的局限，成功解決了回路電阻測(cè)試儀由于電壓線(xiàn)開(kāi)路或接觸不良造成的虛假數(shù)據(jù)問(wèn)題，并成功實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量。
　　開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀測(cè)試時(shí)先通過(guò)繼電器接點(diǎn)將輔助恒流源接到電壓測(cè)試線(xiàn)的兩端，電壓測(cè)試線(xiàn)通過(guò)試品電阻構(gòu)成回路。當(dāng)電壓線(xiàn)接于斷路器端子排后，小電流恒流源若工作在恒流狀態(tài)下，則整個(gè)電壓回路的電阻比較小，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值較小，此時(shí)警告提示信號(hào)不啟動(dòng)，表明電壓線(xiàn)鉗夾與斷路器端子排接觸良好；如果電壓線(xiàn)接于斷路器端子排后，小電流恒流源不能工作在恒流狀態(tài)，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值很大，接近小電流恒流源的開(kāi)路電壓，則可以判斷電壓線(xiàn)接觸不良，此時(shí)啟動(dòng)警告提示信號(hào)，提醒測(cè)試人員處理接觸異常。

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